[发明专利]存储单元的检测方法及设备在审
| 申请号： | 202210738454.3 | 申请日： | 2022-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN115019869A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 楚西坤 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 屈蓓;臧建明 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例提供一种存储单元的检测方法及设备，该方法包括：对存储单元写入第一数据；控制晶体管导通第一时长，以在存储单元的第一极板和存储单元的位线之间进行电荷共享，第一时长小于或等于预设阈值；对存储单元进行数据读取，以获取电荷共享后第一极板的电压对应的第二数据；根据第一数据和所述第二数据，确定存储电容是否失效。本公开实施例通过减小电荷共享的第一时长，以制造更多的读取错误，从而可以检测出来更多失效的存储电容。这样，就可以将漏电更小的离群存储电容检测出来。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 单元 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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