[发明专利]一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法和装置在审
| 申请号： | 202210735858.7 | 申请日： | 2022-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN115096163A | 公开（公告）日： | 2022-09-23 |
| 发明（设计）人： | 李丽芳;阎煜;刘俊岩;王扬;闫继宏 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人： | 张宏威 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法和装置，属于空间环境模拟技术领域，解决现有缺少能够准确获取高分辨率的粉尘淋撒均匀度的测量方法问题。本发明的方法包括：将全部量杯放置于待测淋撒均匀度区域下方，并按照矩阵的形式进行排列；将全部的量杯放置于待测区域的下方；当预设数量的量杯中的粉尘盖住杯底时，停止采样；获取每个量杯所在区域粉尘淋撒质量，按每个量杯在矩阵中相应的位置进行记录，获取粉尘淋撒质量矩阵；计算所述粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素的均方差，根据所述粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素的均方差和所述粉尘总质量的比值，判断所述待测区域的粉尘淋撒均匀度。本发明适用于对大面积微米级粉尘淋撒均匀度高分辨率的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微米 粉尘 均匀 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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