[发明专利]一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法和装置在审
| 申请号: | 202210735858.7 | 申请日: | 2022-06-27 |
| 公开(公告)号: | CN115096163A | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
| 发明(设计)人: | 李丽芳;阎煜;刘俊岩;王扬;闫继宏 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
| 代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 张宏威 |
| 地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 微米 粉尘 均匀 测量方法 装置 | ||
1.一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,所述方法包括:
步骤1、选取若干个相同的量杯;
步骤2、将全部量杯放置于待测淋撒均匀度区域下方,并按照矩阵的形式进行排列,并为所述量杯编号;
步骤3、将全部的量杯放置于待测区域的下方,所述待测区域为淋撒区域;
步骤4、设置预设数量,当预设数量的量杯中的粉尘盖住杯底时,停止采样;
步骤5、设置量杯的采样方式,根据所述采样方式对量杯进行采样,将被采样的量杯进行称重,获取所述被采样的量杯采样后质量;
步骤6、根据每个所述被采样的量杯的采样前质量和采样后质量的差值,获取每个量杯所在区域粉尘淋撒质量,并按照每个所述被采样的量杯在矩阵中相应的位置进行记录,获取粉尘淋撒质量矩阵;
步骤7、重复步骤1-6若干次,获取若干个所述粉尘淋撒质量矩阵,将所述若干个所述粉尘淋撒质量矩阵相加并取平均值,得到粉尘淋撒平均质量矩阵;
步骤8、将所述粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素相加求和,获得粉尘总质量;
计算所述粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素的均方差,根据所述粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素的均方差和所述粉尘总质量的比值,判断所述待测区域的粉尘淋撒均匀度。
2.根据权利要求1所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,所述若干个相同的量杯的个数为平方数。
3.根据权利要求1所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,所述步骤1之前还包括:清洗后晾干所述量杯。
4.根据权利要求1所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,步骤7中的所述若干次,具体为:10~15次。
5.根据权利要求1所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,所述步骤8之后还包括:根据所述若干个所述粉尘淋撒矩阵,获取局部待测区域的若干个局部粉尘淋撒质量矩阵;
将所述若干个局部粉尘淋撒质量矩阵相加并取平均值,得到局部粉尘淋撒平均质量矩阵;
将所述局部粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素相加求和,获得局部粉尘总质量;
计算所述局部粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素的均方差,根据所述局部粉尘淋撒平均质量矩阵中所有元素的均方差和所述局部粉尘总质量的比值,判断所述待测区域中局部区域的粉尘淋撒均匀度。
6.根据权利要求1所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,所述采样方式为对全部的量杯进行采样。
7.根据权利要求1所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量方法,其特征在于,所述采样方式为在以矩阵形式排列的量杯中,间隔地对量杯进行采样。
8.一种微米级粉尘淋撒均匀度测量装置,其特征在于,所述装置包括:若干个量杯、淋撒装置、量杯定位把和挡板;
所述量杯规格相同;
所述淋撒装置放置于待测区域上方,用于淋撒粉尘;
所述量杯定位把放置于所述淋撒装置的正下方,用于限制所述量杯的位置;
所述挡板用于在采样结束时插入淋撒装置和量杯定位把之间,挡住全部的量杯的入口。
9.根据权利要求8所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量装置,其特征在于,所述量杯定位把内部被分隔出等大的网格,并以矩阵形式排布。
10.根据权利要求8所述的一种微米级粉尘淋撒均匀度测量装置,其特征在于,所述量杯为正方形的桶状杯体,若干个量杯的质量误差小于1‰,杯口面积误差小于1‰,杯口截面为正方形,所述杯口处的杯壁向量杯内倾斜呈漏斗形,所述量杯与量杯定位把中的网格紧密配合,量杯表面光滑,采用硬质材料制作。
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