[发明专利]基于高折射率电介质增强分子表面光声信号的方法在审
| 申请号： | 202210673427.2 | 申请日： | 2022-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN115153431A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 张莹;方晖 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于高折射率电介质增强分子表面光声信号的方法，通过高折射率电介质制成的GaP二聚体在近红外区域的超低损耗来实现分子信号的光声信号增强。本发明的有益效果是：既能有效的增强分子的光声信号，保留分子光声信号的特异性；又可以降低造影剂的信号干扰，避免“假阳性”的诊断结果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 折射率 电介质 增强 分子 表面光 信号 方法 | ||
【主权项】：
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