[发明专利]一种半导体模块类堆叠封装深孔加工方法在审

专利信息
申请号: 202210632520.9 申请日: 2022-06-07
公开(公告)号: CN114975148A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 张光耀 申请(专利权)人: 合肥矽迈微电子科技有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种半导体模块类堆叠封装深孔加工方法,属于半导体封装技术领域,包括以下步骤:步骤一:将加工完成的晶圆分别进行包封封装,形成第一芯片和第二芯片;步骤二:所述第一芯片和第二芯片均包封在封装层的内部,所述第一芯片和第二芯片电性连接;在步骤一和步骤二之间:提供一载板,将载板上涂有光阻膜,后光阻膜图案化,图案化光阻膜之后去除用以形成封装层内部的深孔;载板上同时设置有芯片,芯片位于图案化的光阻膜的一侧,包封后去除暴露出的图案化的光阻膜,封装层上对应位置形成深孔,深孔加工形成的完成度更好,深孔内壁的塑封料残留少、粗糙度小,形成的内部电路电性稳定,加工时间短,更加快速高效。
搜索关键词: 一种 半导体 模块 堆叠 封装 加工 方法
【主权项】:
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