[发明专利]一种束流射程质量保证快速探测装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202210620776.8 申请日: 2022-06-02
公开(公告)号: CN115061184A 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 赵祖龙;徐治国;毛瑞士;胡正国 申请(专利权)人: 中国科学院近代物理研究所
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29;A61N5/10
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 朱燕鸥
地址: 730013 *** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明涉及束流射程质量保证快速探测装置及方法,包括:探测器,所述探测器用于对不同能量的粒子束流进行射程测量;数据采集电子学,所述数据采集电子学包括壳体以及安装在所述壳体内的多通道微电流数字化读出电子学和辅助功能电子学,所述多通道微电流数字化读出电子学用于对所述探测器检测的信号进行放大和采集,所述辅助功能电子学用于对所述探测器提供工作电压、电压反馈以及进行温湿度监测;上位机,所述上位机与所述数据采集电子学之间信号连接,用于对所述信号进行处理和显示。所述束流射程质量保证快速探测装置及方法实现了覆盖质子和重离子治疗装置上现有全部治疗能量的束流射程验证,极大缩短每日QA的时间。
搜索关键词: 一种 射程 质量保证 快速 探测 装置 及其 使用方法
【主权项】:
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