[发明专利]脑测量装置和脑测量方法在审

专利信息
申请号: 202210616585.4 申请日: 2022-06-01
公开(公告)号: CN115436853A 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 笈田武范;森谷隆广;齐藤右典;须山本比吕;小林哲生 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社;国立大学法人京都大学
主分类号: G01R33/48 分类号: G01R33/48;G01R33/385;G01R33/36;G01R33/26;A61B5/055;A61B5/245;A61B5/00
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;黄浩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种脑测量装置和脑测量方法。用于生成受试者的MR图像和脑磁场分布的脑测量装置具备:MRI模块,其具有用于向受试者发送发送脉冲的发送线圈、和用于检测通过发送脉冲而在受试者产生的核磁共振信号的检测线圈;光激发磁传感器,其用于检测受试者的脑磁场;生成部,其用于基于由检测线圈检测出的核磁共振信号来生成MR图像,并且基于由光激发磁传感器检测出的脑磁场来生成脑磁场分布;标记物,其能够显示于生成部所生成的MR图像;和头盔型的框架,其安装有检测线圈、光激发磁传感器和标记物,并佩戴于受试者的头部。
搜索关键词: 测量 装置 测量方法
【主权项】:
暂无信息
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