[发明专利]脑测量装置和脑测量方法在审
申请号: | 202210616585.4 | 申请日: | 2022-06-01 |
公开(公告)号: | CN115436853A | 公开(公告)日: | 2022-12-06 |
发明(设计)人: | 笈田武范;森谷隆广;齐藤右典;须山本比吕;小林哲生 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社;国立大学法人京都大学 |
主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01R33/385;G01R33/36;G01R33/26;A61B5/055;A61B5/245;A61B5/00 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦;黄浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种脑测量装置,用于生成受试者的MR图像和脑磁场分布,其特征在于,具备:
MRI模块,其具有用于向所述受试者发送发送脉冲的发送线圈、和用于检测通过所述发送脉冲而在所述受试者产生的核磁共振信号的检测线圈;
光激发磁传感器,其用于检测所述受试者的脑磁场;
生成部,其用于基于由所述检测线圈检测出的所述核磁共振信号来生成所述MR图像,并且基于由所述光激发磁传感器检测出的所述脑磁场来生成所述脑磁场分布;
标记物,其能够显示于所述生成部所生成的所述MR图像;和
头盔型的框架,其安装有所述检测线圈、所述光激发磁传感器和所述标记物,并佩戴于所述受试者的头部。
2.如权利要求1所述的脑测量装置,其特征在于:
所述生成部执行:
提取处理,从所述MR图像提取所述标记物;
取得处理,在作为所述MR图像上的坐标系的MRI坐标系中,取得在所述提取处理中提取出的所述标记物的位置;
推定处理,基于作为所述脑磁场分布上的坐标系的脑磁坐标系中的所述标记物的位置和在所述取得处理中取得的所述MRI坐标系中的所述标记物的位置,推定用于将所述脑磁坐标系变换为所述MRI坐标系的变换信息;和
对位处理,使用在所述推定处理中推定出的所述变换信息,将所述脑磁场分布投影到所述MRI坐标系来进行所述脑磁场分布与所述MR图像的对位。
3.如权利要求1或2所述的脑测量装置,其特征在于:
具备安装于所述框架的互不相同的位置的多个所述标记物。
4.如权利要求3所述的脑测量装置,其特征在于:
多个所述标记物包括不在同一直线上的至少3个所述标记物。
5.如权利要求1~4中任一项所述的脑测量装置,其特征在于:
所述标记物包括Beekley标记物或Magnevist溶液胶囊。
6.一种脑测量方法,用于生成受试者的MR图像和脑磁场分布,其特征在于,具备:
第1工序,在将设置有光激发磁传感器和标记物的头盔型的框架佩戴于所述受试者的头部的状态下,通过检测由所述受试者和所述标记物产生的核磁共振信号,来生成基于该核磁共振信号显示有所述标记物的所述MR图像,并且通过由光激发磁传感器检测所述受试者的脑磁场,来基于该脑磁场生成所述脑磁场分布;和
第2工序,进行在所述第1工序中生成的所述MR图像与所述脑磁场分布的对位。
7.如权利要求6所述的脑测量方法,其特征在于:
所述第2工序包括:
提取工序,从所述MR图像提取所述标记物;
取得工序,在作为所述MR图像上的坐标系的MRI坐标系中,取得在所述提取工序中提取出的所述标记物的位置;
推定工序,基于作为所述脑磁场分布上的坐标系的脑磁坐标系中的所述标记物的位置和在所述取得工序中取得的所述MRI坐标系中的所述标记物的位置,推定用于将所述脑磁坐标系变换为所述MRI坐标系的变换信息;和
对位工序,使用在所述推定工序中推定出的所述变换信息,将所述脑磁场分布投影到所述MRI坐标系来进行所述脑磁场分布与所述MR图像的对位。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社;国立大学法人京都大学,未经浜松光子学株式会社;国立大学法人京都大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210616585.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。