[发明专利]缺陷检测系统在审
申请号: | 202210599217.3 | 申请日: | 2022-05-30 |
公开(公告)号: | CN114965484A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
发明(设计)人: | 姚雨馨;许文航;吴佳飞;党亮亮 | 申请(专利权)人: | 上海商汤智能科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G06T7/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 董文俊 |
地址: | 200233 上海市徐*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种缺陷检测系统,所述系统包括:第一成像设备和第一处理器,所述第一成像设备与所述第一处理器之间存在第一通信连接,所述第一成像设备安装在轨道的第一侧,所述轨道用于传输发光二极管支架;所述第一成像设备采集所述第一侧的第一图像;所述第一处理器通过所述第一通信连接获取所述第一图像,并对所述第一图像进行缺陷检测,得到所述发光二极管支架的第一面的第一缺陷检测结果,所述第一面位于所述第一侧。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 检测 系统 | ||
【主权项】:
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