[发明专利]缺陷检测系统

说明书

本申请公开了一种缺陷检测系统，所述系统包括：第一成像设备和第一处理器，所述第一成像设备与所述第一处理器之间存在第一通信连接，所述第一成像设备安装在轨道的第一侧，所述轨道用于传输发光二极管支架；所述第一成像设备采集所述第一侧的第一图像；所述第一处理器通过所述第一通信连接获取所述第一图像，并对所述第一图像进行缺陷检测，得到所述发光二极管支架的第一面的第一缺陷检测结果，所述第一面位于所述第一侧。

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术领域，尤其涉及一种缺陷检测系统。

背景技术

近年来，发光二极管(light-emitting diode，LED)灯具的应用越来越广，而LED支架作为LED晶片的底基座，连接灯珠内部的电极。LED支架的质量直接影响LED灯具的成品质量。因此，如何在生产LED的过程中检测LED支架是否存在缺陷具有非常重要的意义。

发明内容

本申请提供一种缺陷检测系统，所述系统包括：第一成像设备和第一处理器，所述第一成像设备与所述第一处理器之间存在第一通信连接，所述第一成像设备安装在轨道的第一侧，所述轨道用于传输发光二极管支架；

所述第一成像设备采集所述第一侧的第一图像；

所述第一处理器通过所述第一通信连接获取所述第一图像，并对所述第一图像进行缺陷检测，得到所述发光二极管支架的第一面的第一缺陷检测结果，所述第一面位于所述第一侧。

结合本申请任一实施方式，所述缺陷检测系统还包括：

安装在所述第一侧的第一光源，用于在所述第一成像设备采集所述第一图像的过程中对所述第一侧进行照明。

结合本申请任一实施方式，所述缺陷检测系统还包括：安装在所述轨道的第二侧的第二成像设备，所述第二侧和所述第一侧为所述轨道的两侧，所述第二成像设备与所述第一处理器之间存在第二通信连接；

所述第二成像设备采集所述第二侧的第二图像；

所述第一处理器通过所述第二通信连接获取所述第二图像，并对所述第二图像进行缺陷检测，得到所述发光二极管支架的第二面的第二缺陷检测结果，所述第二面位于所述第二侧。

结合本申请任一实施方式，所述第二图像包括所述发光二极管支架的第二面的第一缺陷检测区域和所述发光二极管支架的第二面的非缺陷检测区域；

所述第一处理器通过所述第二通信连接获取所述第二图像，并对所述第二图像进行缺陷检测，得到所述发光二极管支架的第二面的第二缺陷检测结果，包括：

从所述第二图像中提取所述第一缺陷检测区域的第一特征数据和所述非缺陷检测区域的第二特征数据；

对所述第一特征数据和所述第二特征数据进行加权求和，得到所述发光二极管支架的第二面的第三特征数据；所述第一特征数据的权重大于所述第二特征数据的权重；

根据所述第三特征数据得到所述发光二极管支架的第二面的第二缺陷检测结果。

结合本申请任一实施方式，权利要求4所述的得到所述第二缺陷检测结果的过程通过缺陷检测模型实现，所述缺陷检测模型的训练过程包括：

获取待训练模型和至少一张训练图像，所述至少一张训练图像均包括发光二极管支架样本，所述至少一张训练图像的标注数据包括所述发光二极管支架样本的所述第一缺陷检测区域和所述发光二极管支架样本的缺陷情况；

根据所述至少一张训练图像，对所述待训练模型进行训练，得到所述缺陷检测模型。

结合本申请任一实施方式，所述根据所述第三特征数据得到所述发光二极管支架的第二面的第二缺陷检测结果，包括：

根据所述第三特征数据，确定所述发光二极管支架的第二面存在待确认缺陷；