[发明专利]光谱采样元件及计算式光谱测量装置在审
| 申请号： | 202210546731.0 | 申请日： | 2022-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN114812810A | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 蔡宇翔;倪博阳;李昂;栗雅清;邵新宇;刘清博;傅志辉 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光谱采样元件，用于计算式光谱测量中的光谱全局采样，所述光谱采样元件为一根具有多处自耦合区的自耦合光波导，所述自耦合区通过所述自耦合光波导自身的弯曲折叠形成。本发明还公开了一种计算式光谱测量装置。相比现有技术，本发明所提出的光谱采样元件，基于普通的波导结构，无需像光栅或光子晶体器件需要较高的工艺精度，且不会引入额外的散射损耗，易于设计，无需较高加工精度，且具有更大的工作带宽和更高的精度。本发明所提出的计算式光谱测量装置，通过单次测量即可高精度地重建输入光谱，由于采用上述光谱采样元件，制造难度、制造成本得到大幅降低，同时测量精度有效提升，其实用性远超现有的计算式光谱仪。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 采样 元件 算式 测量 装置 | ||
【主权项】：
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