[发明专利]光谱采样元件及计算式光谱测量装置

权利要求书

1.一种光谱采样元件，用于计算式光谱测量中的光谱全局采样，其特征在于，所述光谱采样元件为一根具有多处自耦合区的自耦合光波导，所述自耦合区通过所述自耦合光波导自身的弯曲折叠形成。

2.如权利要求1所述光谱采样元件，其特征在于，所述光谱采样元件还包括至少一个与所述自耦合光波导耦合的环形光波导。

3.如权利要求1或2所述光谱采样元件，其特征在于，其为光集成元件。

4.一种计算式光谱测量装置，包括多个具有不同传输函数的光谱采样元件，用于分别对待测光信号进行光谱全局采样；其特征在于，所述光谱采样元件为权利要求1～3任一项所述光谱采样元件。

5.如权利要求4所述计算式光谱测量装置，其特征在于，所述多个光谱采样元件的采样参数是以各光谱采样元件相互之间的相关性最小的同时单个光谱采样元件的传输函数在波长域的随机性最大为优化目标，通过多目标优化方法优化得到。

6.如权利要求5所述计算式光谱测量装置，其特征在于，以互相关系数度量所述相关性。

7.如权利要求5所述计算式光谱测量装置，其特征在于，以极点数量和/或自相关系数度量传输函数在波长域的随机性。

8.如权利要求5所述计算式光谱测量装置，其特征在于，所述采样参数包括以下参数中的至少一种：自耦合光波导中的自耦合区数量，自耦合光波导中各自耦合区相互间的距离，自耦合光波导中各自耦合区的耦合系数。