[发明专利]一种用于基板探伤的设备及其应用

摘要

本发明涉及G01B11，具体涉及一种用于基板探伤的设备及其应用，用于基板探伤的设备包括固定板，检测装置，侧挡板，限位圈，连接靠板，固定孔，支架和滑轨；限位圈的下面固定连接在固定板的上面，限位圈固定连接在连接靠板的上部边缘，和连接靠板的边缘处于同一水平线；连接靠板固定连接在侧挡板的上部；支架分别与固定板和连接靠板固定连接；检测装置通过滑轨滑动连接在侧挡板中部，固定孔位于侧挡板上。本发明提供的用于基板探伤的设备结构简单，设备体积小，检测方便，结构紧凑，造型美观，节约空间。不仅可以用于不同大小的产品整体检查和局部放大检查，而且不易使芯片表面发生二次损伤。