[发明专利]一种表面缺陷检测系统在审
申请号: | 202210472613.X | 申请日: | 2022-04-29 |
公开(公告)号: | CN114782387A | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 刘曜轩;洪鼎岳 | 申请(专利权)人: | 苏州威达智电子科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20;G06V10/26;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08;G06K9/62 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 215024 江苏省苏州市中国(*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开的一种一种表面缺陷检测系统,包括图像获取模块与U‑Net模型;通过图像获取模块进行获取工件的图像,对图像进行预处理,并提取工件原始图像数据,将工件原始图像数据进行滤波处理,将滤波后的图像数据输入U‑Net模型,所述U‑Net模型包括编码器,通过U‑Net模型压缩图像并捕获关键特征,通过编码器进行编码后的图像被采样回原始大小,并获取关键信息进行优化自定义损失函数,并输出一个与原始图像大小相同的二进制掩码;通过卷积网络执行二值分类,并输出U‑Net模型处理数据;根据U‑Net模型处理数据与工件原始图像数据进行比较,判断工件缺陷信息。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 缺陷 检测 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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