[发明专利]一种表面缺陷检测系统在审
申请号: | 202210472613.X | 申请日: | 2022-04-29 |
公开(公告)号: | CN114782387A | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 刘曜轩;洪鼎岳 | 申请(专利权)人: | 苏州威达智电子科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20;G06V10/26;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08;G06K9/62 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 陆金星 |
地址: | 215024 江苏省苏州市中国(*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 表面 缺陷 检测 系统 | ||
1.一种表面缺陷检测系统,包括:图像获取模块与U-Net模型;其特征在于,
通过图像获取模块进行获取工件的图像,对图像进行预处理,并提取工件原始图像数据,
将工件原始图像数据进行滤波处理,
将滤波后的图像数据输入U-Net模型,所述U-Net模型包括编码器,
通过U-Net模型压缩图像并捕获关键特征,
通过编码器进行编码后的图像被采样回原始大小,并获取关键信息进行优化自定义损失函数,并输出一个与原始图像大小相同的二进制掩码;
通过卷积网络执行二值分类,并输出U-Net模型处理数据;
根据U-Net模型处理数据与工件原始图像数据进行比较,判断工件缺陷信息。
2.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述U-Net模型为图像分割模型,采用了编码与解码的结构,先对图像进行多次下采样,再进行上采样,重复上采样+融合过程直到得到与输入图像尺寸相同的分割图。
3.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,将工件原始图像数据进行滤波处理,具体包括:
对工件原始图像数据进行中值滤波处理,获得中值滤波图像数据;
将工件原始图像数据与中值滤波图像数据进行减法计算,得到中间结果图像数据;
将中间结果图像数据进行几何形态分析,获得缺陷图像数据,
对缺陷图像数据进行分析处理,获得图像分析处理结果。
4.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述图像获取模块包括工业相机或工业镜头中的一种。
5.根据权利要求4所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述图像获取模块还包括照明光源,所述照明光源用于对图像获取模块进行补光。
6.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,还包括平衡检测模块,所述平衡检测模块用于检测工件水平度,
判断工件水平度是否大于预设阈值;
若大于,则进行工件位置调整;
若小于,则通过图像获取模块对工件进行图像采集。
7.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述编码器包括4个块,第一个块为3x3卷积层、线性整流函数与Batch-Normalization层组成、其余3个块分别为瓶颈块、解码器与卷积块。
8.根据权利要求7所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述瓶颈块连接收缩路径与扩展路径,所述瓶颈块接受输入,所述瓶颈块连接res块,所述res块连接2x2个上采样卷积层。
9.根据权利要求7所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述解码器接受上采样的输入,并与相应的输出特征连接。
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