[发明专利]一种表面缺陷检测系统在审

专利信息
申请号: 202210472613.X 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114782387A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 刘曜轩;洪鼎岳 申请(专利权)人: 苏州威达智电子科技有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T5/00;G06T5/20;G06V10/26;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08;G06K9/62
代理公司: 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 代理人: 陆金星
地址: 215024 江苏省苏州市中国(*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 表面 缺陷 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种表面缺陷检测系统,包括:图像获取模块与U-Net模型;其特征在于,

通过图像获取模块进行获取工件的图像,对图像进行预处理,并提取工件原始图像数据,

将工件原始图像数据进行滤波处理,

将滤波后的图像数据输入U-Net模型,所述U-Net模型包括编码器,

通过U-Net模型压缩图像并捕获关键特征,

通过编码器进行编码后的图像被采样回原始大小,并获取关键信息进行优化自定义损失函数,并输出一个与原始图像大小相同的二进制掩码;

通过卷积网络执行二值分类,并输出U-Net模型处理数据;

根据U-Net模型处理数据与工件原始图像数据进行比较,判断工件缺陷信息。

2.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述U-Net模型为图像分割模型,采用了编码与解码的结构,先对图像进行多次下采样,再进行上采样,重复上采样+融合过程直到得到与输入图像尺寸相同的分割图。

3.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,将工件原始图像数据进行滤波处理,具体包括:

对工件原始图像数据进行中值滤波处理,获得中值滤波图像数据;

将工件原始图像数据与中值滤波图像数据进行减法计算,得到中间结果图像数据;

将中间结果图像数据进行几何形态分析,获得缺陷图像数据,

对缺陷图像数据进行分析处理,获得图像分析处理结果。

4.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述图像获取模块包括工业相机或工业镜头中的一种。

5.根据权利要求4所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述图像获取模块还包括照明光源,所述照明光源用于对图像获取模块进行补光。

6.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,还包括平衡检测模块,所述平衡检测模块用于检测工件水平度,

判断工件水平度是否大于预设阈值;

若大于,则进行工件位置调整;

若小于,则通过图像获取模块对工件进行图像采集。

7.根据权利要求1所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述编码器包括4个块,第一个块为3x3卷积层、线性整流函数与Batch-Normalization层组成、其余3个块分别为瓶颈块、解码器与卷积块。

8.根据权利要求7所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述瓶颈块连接收缩路径与扩展路径,所述瓶颈块接受输入,所述瓶颈块连接res块,所述res块连接2x2个上采样卷积层。

9.根据权利要求7所述的一种表面缺陷检测系统,其特征在于,所述解码器接受上采样的输入,并与相应的输出特征连接。

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