[发明专利]一种自校准控制NEA GaN电子源吸收系数的方法在审

专利信息
申请号: 202210457340.1 申请日: 2022-04-27
公开(公告)号: CN115020167A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 王晓晖;刘燕晴;张一帆 申请(专利权)人: 电子科技大学长三角研究院(湖州)
主分类号: H01J9/12 分类号: H01J9/12;H01J1/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 313000 浙江省湖州市西塞*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种自校准控制NEA GaN电子源吸收系数的方法。具体方法为:步骤1、建立温度校准模型;步骤2、测量样品的吸收系数α0、波长λ0和温度T0,根据数据拟合样品参数;步骤3、将工作入射光波长λ、目标吸收系数α及样品参数输入到预先建立完成的温度校准模型中计算输出温度T1;步骤4、测量T1下的吸收系数α1并计算偏离值S1,若S1小于设定值S,输出温度T=T1,若S1大于S,则根据T1,α1继续修正样品参数,再次计算得到温度T2,并比较偏离值S2和S。根据如上步骤校准温度,直至Sn小于S,输出对应α的最佳温度T。本发明能够通过温度来控制NEA GaN电子源的吸收系数,并具有自校准的功能,可以实现NEA GaN电子源吸收系数的实时精确可控,最终提高其量子效率、稳定性等性能参数,优化NEA GaN电子源的工作性能。
搜索关键词: 一种 校准 控制 nea gan 电子 吸收系数 方法
【主权项】:
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