[发明专利]一种激光芯片测试分选机及其工作方法在审
| 申请号： | 202210449730.4 | 申请日： | 2022-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN114733782A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 邓艳汉;苏婷 | 申请（专利权）人： | 泉州兰姆达仪器设备有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/344;B07C5/342;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人： | 黄诗锦;蔡学俊 |
| 地址： | 362712 福建省泉州市石狮市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光芯片测试分选机及其工作方法，包括工作台，所述工作台上沿横向依次分布有取料工位、高温测试工位、低温测试工位以及分料工位，所述取料工位、高温测试工位、低温测试工位之间设有用于吸附住激光芯片并沿横向往复移动的上料机构；所述低温测试工位与分料工位之间设有用于吸附住激光芯片并沿横向往复移动的下料机构；所述取料工位设有位于上料蓝膜盘下方的顶针机构；所述高温测试工位设有高温测试机构，所述低温测试工位设有低温测试机构；所述分料工位设有分料机构。本发明设计合理，可方便对单颗激光芯片进行多个参数测试，且对测试后的激光芯片进行分别放置，有效提高测试分选效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 芯片 测试 分选 及其 工作 方法 | ||
【主权项】：
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