[发明专利]一种电解电容耐低频充放电性能组合测试装置在审
申请号: | 202210444994.0 | 申请日: | 2022-04-26 |
公开(公告)号: | CN114859153A | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 颜翰菁;周加兵;詹光耀 | 申请(专利权)人: | 常州华威电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R27/26;G01R31/52;G01R31/64;G01R27/02 |
代理公司: | 常州盛鑫专利代理事务所(普通合伙) 32459 | 代理人: | 廉莹 |
地址: | 213144 江苏省常*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明属于电容测试领域,具体公开了一种电解电容耐低频充放电性能组合测试装置,包括直流电源DC、储能电容C、充电开关Sch、充电限流电阻Rch、充电限流电阻短接开关Ssht、放电开关Sdisch、放电限流电阻Rdis、第一电磁继电器Sa、被测电解电容CT、第二电磁继电器Sb、电流检测电阻Rcs2、二极管D1、运算放大器OP、AD转换器、单片机MCU、电脑PC、数字温度传感器RT以及LCR数字电桥。本发明提供的电解电容耐低频充放电性能组合测试装置,具有高度自动化功能,完全取代人工操作,可大幅度提高测试频次,提高数据准确性和实时性;同时增加电容温度检测功能,使得电容性能评定更加全面,试验更加安全。 | ||
搜索关键词: | 一种 电解电容 低频 放电 性能 组合 测试 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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