[发明专利]一种电解电容耐低频充放电性能组合测试装置在审
| 申请号： | 202210444994.0 | 申请日： | 2022-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN114859153A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 颜翰菁;周加兵;詹光耀 | 申请（专利权）人： | 常州华威电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R27/26;G01R31/52;G01R31/64;G01R27/02 |
| 代理公司： | 常州盛鑫专利代理事务所(普通合伙) 32459 | 代理人： | 廉莹 |
| 地址： | 213144 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于电容测试领域，具体公开了一种电解电容耐低频充放电性能组合测试装置，包括直流电源DC、储能电容C、充电开关Sch、充电限流电阻Rch、充电限流电阻短接开关Ssht、放电开关Sdisch、放电限流电阻Rdis、第一电磁继电器Sa、被测电解电容CT、第二电磁继电器Sb、电流检测电阻Rcs2、二极管D1、运算放大器OP、AD转换器、单片机MCU、电脑PC、数字温度传感器RT以及LCR数字电桥。本发明提供的电解电容耐低频充放电性能组合测试装置，具有高度自动化功能，完全取代人工操作，可大幅度提高测试频次，提高数据准确性和实时性；同时增加电容温度检测功能，使得电容性能评定更加全面，试验更加安全。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电解电容 低频 放电 性能 组合 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州华威电子有限公司，未经常州华威电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210444994.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种少资源FPGA多轴电流环
- 下一篇：一种ABS塑料专用涂料及其制备方法
