[发明专利]一种用于在机检测的测量路径规划方法

摘要

本发明属于在机检测领域，具体涉及一种用于在机检测的测量路径规划方法，本方法包括：获取测量轨迹衔接点信息，获取机床结构信息及各运动轴速度信息，将衔接点位置信息转化为机床运动轴位置信息，确定两衔接点各运动轴所需运动时间的函数，计算任意两衔接点之间真实运动时间，求解最优测量路径。本发明以测量时间为约束条件计算测量路径，同时考虑了旋转轴的运动问题，相对于路径最短的轨迹规划方法，能够更加显著的提升测量轨迹规划质量，提高测量效率。