[发明专利]一种适用于半导体测试的手测器在审
申请号: | 202210383768.6 | 申请日: | 2022-04-12 |
公开(公告)号: | CN114779148A | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 丁崇亮;张飞龙;付盼红 | 申请(专利权)人: | 渭南木王智能科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R1/067 |
代理公司: | 西安赛嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 61275 | 代理人: | 王伟超 |
地址: | 714000 陕西省渭*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用于半导体测试的手测器,包括基座,基座的下侧设置有垫块,所述垫块上设置有装夹孔,基座的下侧铰接有限位板,所述限位板上设置有限位孔,所述限位孔与所述垫块相匹配,所述基座的侧部装配有所述限位块卡装配合的挂钩。该适用于半导体测试的手测器,解决了现有半导体测试探针,在测试过程中与被测器件进行接触接触,容易产生过压的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 半导体 测试 手测器 | ||
【主权项】:
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