[发明专利]基于半导电涂覆层的GIS自由金属微粒的抑制方法在审

专利信息
申请号: 202210299045.8 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN114656859A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 高山;赵科;李洪涛;马径坦;杨景刚;刘建军;陈少波;徐阳;张照辉;李玉杰;孙蓉;刘咏飞;肖焓艳;庄添鑫 申请(专利权)人: 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司;国网江苏省电力有限公司;江苏省电力试验研究院有限公司
主分类号: C09D163/02 分类号: C09D163/02;C09D7/61;B05D1/02;B05D3/02;B05D5/00;B05D7/14;B05D7/24
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 邵斌
地址: 211103 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了电器绝缘技术领域的一种基于半导电涂覆层的GIS自由金属微粒的抑制方法,包括在GIS外壳的内表面喷涂半导电涂覆液并进行烘干固化,形成能够抑制GIS外壳内自由金属微粒的半导电涂覆层。本发明一方面可避免GIS内表面没有绝缘层时自由金属微粒与GIS外壳的内表面裸金属直接接触发生传导带电,导致自由金属微粒带电在电场力作用下起跳,另一方面避免采用GIS表面覆绝缘材料时自由金属微粒与绝缘层以及SF6气体接触位置的三结合点位置发生局部放电,继而导致GIS电极间隙空间电场畸变,降低GIS的绝缘性能;有效阻止了由于GIS内部的金属微粒荷电导致的GIS绝缘性能下降。
搜索关键词: 基于 导电 覆层 gis 自由 金属 微粒 抑制 方法
【主权项】:
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