[发明专利]测距装置、测距方法在审

专利信息
申请号: 202210284617.5 申请日: 2022-03-22
公开(公告)号: CN115113218A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 筱田尚辉 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 龚伟;王玉瑾
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种测距装置及测距方法,其目的是提供能够提高测量精度的测距装置。本发明的测距装置是TOF方式,其中具有光源部(10),该光源部(10)根据发光控制部(12)指定的时刻,投射测量光(L0);受光部(20),该受光部(20)根据受光控制部(22)指定的时刻,接受对象物(O)反射的测量光(LR);相位控制部(14),用于控制测量光(L0)的相位;以及运算部(30),用于根据受光部(20)接受的测量光(LR)计算与对象物(0)的距离,相位控制部(14)根据周期性测量精度波动的测量目标距离的波动量,控制相位。
搜索关键词: 测距 装置 方法
【主权项】:
暂无信息
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