[发明专利]测距装置、测距方法在审

专利信息
申请号: 202210284617.5 申请日: 2022-03-22
公开(公告)号: CN115113218A 公开(公告)日: 2022-09-27
发明(设计)人: 筱田尚辉 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 龚伟;王玉瑾
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种飞行时差测距方式的测距装置,其中具有

光源部,该光源部根据发光控制部指定的时刻,投射测量光;

受光部,该受光部根据受光控制部指定的时刻,接受对象物反射的所述测量光;

相位控制部,用于控制所述测量光的相位;以及

运算部,用于根据所述受光部接受的测量光计算与所述对象物的距离,

所述相位控制部根据周期性测量精度波动的测量目标距离的波动量,控制相位。

2.根据权利要求1所述的测距装置,其中,所述相位控制部控制相位移动,以使周期性测定精度波动的测定目标距离的波动量变小。

3.根据权利要求1或2所述的测距装置,其中,所述相位控制部投射第一相位的测量光,根据受光结果,控制相位移动,以使周期性测定精度波动的测定目标距离的波动量变小。

4.根据权利要求3所述的测距装置,其中,所述测定目标距离是对象物被检测到的距离。

5.根据权利要求1至3中任意一项所述的测距装置,其中,所述测定目标距离是能够获得指定精度的最长距离。

6.一种TOF方式的测距装置,其中具有

光源部,该光源部根据发光控制部指定的时刻,以指定的频率,投射测量光;

受光部,该受光部根据受光控制部指定的时刻,接受对象物反射的所述测量光;

运算部,用于根据所述受光部所接受的所述测量光,计算测定目标距离,该测定目标距离是从所述光源部到所述对象物的距离和从所述对象物到所述受光部的距离的合计距离的值,

其特征在于,当设所述测距装置计算所述测量目标距离时能够获得指定精度的最长合计距离为d0,所述频率为f,所述相位为φ0,用π/2除以φ0所得到的余为φ0mod(π/2),光速为c时,相对于式(5A),

处于满足式(8A)和式(9A)

的合计距离d1和d2处的对象物的所述测量目标距离的周期性测量精度波动量σ1和σ2时,σ1>σ2关系成立。

7.根据权利要求6所述的测距装置,其特征在于,当设位于满足式(10A),

的合计距离d3处的对象物的所述测量目标距离的周期性测量精度波动为σ3时,σ2≦σ3<σ1关系成立。

8.根据权利要求6或7所述的测距装置,其中,所述相位控制部用所述发光控制部指定的时刻和所述受光控制部指定的时刻之间的时间差,来控制所述测量光的相位。

9.根据权利要求8所述的测距装置,其特征在于,所述相位控制部控制所述测量光的相位,用以对处于满足所述合计距离d0处的对象物投射测量光,使得基于受光结果所得到的测量目标距离的波动量σ0变小。

10.一种测距方法,该测距方法执行

投射步骤,根据发光控制部指定的时刻,以指定的频率,从光源部投射测量光;

受光步骤,根据受光控制部指定的时刻,由受光部接收对象物反射的所述测量光;

运算步骤,根据在所述受光步骤中接受的所述测量光,计算从所述光源部到所述对象物的距离和从所述对象物到所述受光部的距离的合计距离,将该合计距离作为测定目标距离,

其特征在于,当设所述测距装置计算所述测量目标距离时能够获得指定精度的最长合计距离为d0,所述频率为f,所述相位为φ0,用π/2除以φ0所得到的余为φ0mod(π/2),光速为c时,相对于式(5A),

处于满足式(8A)和式(9A)

的合计距离d1和d2处的对象物的所述测量目标距离的周期性测量精度波动量σ1和σ2时,σ1>σ2关系成立。

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