[发明专利]测色装置在审
| 申请号： | 202210196624.X | 申请日： | 2022-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN115014530A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 三宅俊生;宫坂阳挥;古屋贤一;赤羽久幸 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01J3/46 | 分类号： | G01J3/46 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 沈丹阳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及测色装置。若反射基准面被污染，则无法获取适当的反射基准值，但在以往的测色装置中未考虑反射基准面的维护性。测色装置具备：开口部，形成于在装置的底部配置的开口部形成构件，用于将从测定对象发来的光取入到装置内部；发光部，朝向所述测定对象发出测定用的光；入射光处理部，对通过所述开口部入射的光进行处理；以及快门单元，能够切换覆盖所述开口部的封闭状态和进行测色时的状态即开放所述开口部的开放状态，在所述封闭状态下在面向所述开口部的位置具有作为反射率的基准的反射基准面，所述快门单元被设置为，除了所述封闭状态以及所述开放状态之外，还能够切换为使所述反射基准面向装置的外侧露出的露出状态。 | ||
| 搜索关键词： | 装置 | ||
【主权项】：
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