[发明专利]自动取片方法、自动取片控制系统、计算机存储介质有效
| 申请号: | 202210123154.4 | 申请日: | 2022-02-10 | 
| 公开(公告)号: | CN114156216B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 | 
| 发明(设计)人: | 王欣松 | 申请(专利权)人: | 绍兴中芯集成电路制造股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/67 | 
| 代理公司: | 绍兴市知衡专利代理事务所(普通合伙) 33277 | 代理人: | 邓爱民 | 
| 地址: | 312000 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 | 
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| 摘要: | 
                            本发明涉及晶圆的自动取片方法、自动取片控制系统及计算机存储介质,自动取片方法包括:选择底部无晶圆的第X格槽为真空测试格槽,从真空测试格槽下方距离m | 
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| 搜索关键词: | 自动 方法 控制系统 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】:
                暂无信息
            
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                    H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
                
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