[发明专利]基于FPGA的便携式芯片测试方法及装置在审
| 申请号： | 202210042897.9 | 申请日： | 2022-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN114624564A | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 扈啸;骆旻;王耀华;胡春媚;郭阳;刘月辉;李继维;吴泽霖;文辰 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人： | 周长清 |
| 地址： | 410073 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA的便携式芯片测试方法及装置，该方法的步骤包括：通过主控DSP单元的EMIF接口对FPGA单元内的控制寄存器写值进行初始化配置，配置为慢速扫描模式或实速测试模式；通过主控DSP单元的EMIF接口将测试码按管脚写入FPGA单元内相应的FIFO中；测试控制器实时选中FIFO，使所有管脚测试码同步向待测DSP芯片输出；从待测DSP芯片中的输出端口读回测试响应，进行分析处理。该装置用来实施上述方法。本发明具有结构简单紧凑、操作简便、成本低、适用范围广等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 便携式 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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