[发明专利]一种微小尺寸缺陷的测量与识别方法在审
| 申请号： | 202210041294.7 | 申请日： | 2022-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN114359256A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 郑太雄;朱意霖 | 申请（专利权）人： | 重庆邮电大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/88;G01B11/24;G06V10/44 |
| 代理公司： | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人： | 廖曦 |
| 地址： | 400065 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微小尺寸缺陷的测量与识别方法，属于工业缺陷检测和测量技术领域。该方法采用基于Canny算子亚像素法提取检测物的边缘轮廓，然后将感兴趣的微小区域进行矩阵固定框选采取，再将图片像素值和实际尺寸值进行等比例坐标转换得到感兴趣区域的尺寸，采用改进的YOLOv4进行目标检测框架，将改良的DenseCPSDarknet‑53作为骨干网络，与可裁剪的下三角形金字塔特征提取架构相结合进行目标特征提取得到三个不同尺寸的图像特征，再通过通道注意力和空间注意力机制进行权重叠加，最后通过YOLO head部分，得到缺陷类型和尺寸。本发明解决了使用传统视觉方法在工业缺陷检测时误检，漏检率高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微小 尺寸 缺陷 测量 识别 方法 | ||
【主权项】：
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