[发明专利]用于校准颗粒传感器的方法、颗粒传感器以及具有颗粒传感器的设备在审
| 申请号： | 202180085358.7 | 申请日： | 2021-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN116601480A | 公开（公告）日： | 2023-08-15 |
| 发明（设计）人： | M·弗奇;S·亨格斯巴赫;J·格里梅尔;H·哈特曼 | 申请（专利权）人： | 科安德有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 韩长永 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种用于校准颗粒传感器(2)的方法，其包括：将光束、特别是激光束(8)指向、特别是聚焦到校准平面(KE)上以在校准平面(KE)中产生校准强度分布(10)、特别是校准焦点，其中，校准盘(1)布置在校准平面(KE)中，在所述校准盘上形成用于调制光束、特别是激光束(8)的强度(I)的对比区域(4)；使校准盘(1)和/或校准焦点(10)在校准平面(KE)中运动；检测光束、特别是激光束(8)在通过准平面(KE)之后的至少一个强度信号(I |
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| 搜索关键词： | 用于 校准 颗粒 传感器 方法 以及 具有 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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