[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置有效
| 申请号： | 202123392552.6 | 申请日： | 2021-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN217213016U | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 陈春海 | 申请（专利权）人： | 深圳市益威电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京哌智科创知识产权代理事务所(普通合伙) 11745 | 代理人： | 蒋辉 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区坂田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括工作台，所述工作台的顶部安装有安装架，且安装架的底部安装有芯片测试探针组件主体，所述工作台的顶部安装有回型仓，且回型仓的内侧壁均匀安装有第一安装仓，并且第一安装仓与回型仓相互连通。本实用新型通过多组第一安装仓分别与回型仓的连通，使得操作人员控制油泵将液压油储存仓内液压油不断输送至回型仓的内部时，多组第一安装仓上的活塞杆可以分别被挤压向靠近中间的方向移动，直至与放置在工作台上的芯片侧壁贴合，从而可以对不同大小或者型号的芯片进行限位固定，同时操作方便快捷，且可以避免因为操作失误对芯片造成不必要的损坏，充分保证该装置使用时的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 限位 结构 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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