[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置

权利要求书

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括工作台(1)，其特征在于，所述工作台(1)的顶部安装有安装架(2)，且安装架(2)的底部安装有芯片测试探针组件主体(3)，所述工作台(1)的顶部安装有回型仓(4)，且回型仓(4)的内侧壁均匀安装有第一安装仓(5)，并且第一安装仓(5)与回型仓(4)相互连通，所述第一安装仓(5)内部远离回型仓(4)的一侧贯穿有活塞杆(6)，且活塞杆(6)与第一安装仓(5)之间连接有第一弹簧(7)，并且活塞杆(6)远离第一安装仓(5)的一端安装有U型板(8)，所述工作台(1)的底部安装有液压油储存仓(11)，且液压油储存仓(11)一侧的底部安装有油泵(12)，并且油泵(12)的输入端与液压油储存仓(11)连通，所述油泵(12)的输出端连通有第一管道(13)，且第一管道(13)远离油泵(12)的一端与回型仓(4)连通，所述第一管道(13)的内部安装有单向阀(14)，所述液压油储存仓(11)靠近油泵(12)一侧的顶部安装有第二安装仓(15)，且第二安装仓(15)与第一管道(13)之间通过第二管道(16)连通，并且第二安装仓(15)与液压油储存仓(11)之间通过第三管道(17)连通，所述第二安装仓(15)的内部设置有用于对第二管道(16)进行封闭的弹性机构，所述液压油储存仓(11)上设置有用于回型仓(4)内液压油向液压油储存仓(11)内流动的回流机构。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述活塞杆(6)的截面形状为“T”型，且活塞杆(6)与第一安装仓(5)组成相对滑动结构。

3.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述U型板(8)的内侧壁均匀安装有固定轴(9)，且固定轴(9)的外侧套设有橡胶滚筒(10)。

4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述弹性机构包括设置在第二安装仓(15)内部的活塞主体(18)，所述活塞主体(18)与第二安装仓(15)之间连接有第二弹簧(19)。

5.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述第二安装仓(15)的一端安装有透明观察窗(20)，且透明观察窗(20)下方的第二安装仓(15)上设置有刻度线(21)。

6.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述回流机构包括连通在液压油储存仓(11)远离油泵(12)一侧顶部的第四管道(22)，且第四管道(22)远离液压油储存仓(11)的一端与回型仓(4)连通，所述第四管道(22)的外侧安装有阀门主体(23)。