[实用新型]一种光合光器的测试架构有效

专利信息
申请号: 202123133980.7 申请日: 2021-12-14
公开(公告)号: CN216559628U 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 邹支农;朱松根;宋小街 申请(专利权)人: 高安天孚光电技术有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 南昌市赣昌知识产权代理事务所(普通合伙) 36140 代理人: 徐彩练
地址: 330800*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型公开了一种光合光器的测试架构,其特征在于:包括多波长光源、程控式光开关、专用测试治具、PD光探头、光探测器外延光功率计和测试电脑,专用测试治具包括产品固定座和PD固定座,产品固定座上设有N个用于测试产品插芯定位的定位孔,PD固定座上设有N个PD光探头,N个定位孔与N个PD光探头一一对应设置,程控式光开关通过光纤跳线与测试产品对接,光探测器外延光功率计与PD光探头电性连接。本实用新型采用程控式光开关,避免了不同波长的光源串扰,提高了测试良率和测试精度;采用专用测试治具,使产品可以通过PD光探头直接读取产品插损,实现高效率、高良率、高精度的测试,解决了现有技术采用外接光纤与产品对接造成产品损伤的问题。
搜索关键词: 一种 光合 测试 架构
【主权项】:
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