[实用新型]一种光合光器的测试架构

说明书

本实用新型公开了一种光合光器的测试架构，其特征在于：包括多波长光源、程控式光开关、专用测试治具、PD光探头、光探测器外延光功率计和测试电脑，专用测试治具包括产品固定座和PD固定座，产品固定座上设有N个用于测试产品插芯定位的定位孔，PD固定座上设有N个PD光探头，N个定位孔与N个PD光探头一一对应设置，程控式光开关通过光纤跳线与测试产品对接，光探测器外延光功率计与PD光探头电性连接。本实用新型采用程控式光开关，避免了不同波长的光源串扰，提高了测试良率和测试精度；采用专用测试治具，使产品可以通过PD光探头直接读取产品插损，实现高效率、高良率、高精度的测试，解决了现有技术采用外接光纤与产品对接造成产品损伤的问题。

技术领域

本实用新型涉及光波导测试技术领域，尤其涉及一种光合光器（CWDM/LAN-WDM/DWDM等均通用）的测试架构。

背景技术

传统的光合光器（MUX光波导）测试设备，在测试作业过程中需要外接光纤与产品对接然后与光功率计连接读取产品损耗，光纤对接过程会影响测试效率和对产品进行损伤，且传统测试设备使用光波分复用器将多个波长的光进行合光输入产品中，这样的话如果MUX产品通道间隔离度较差的话，那么不同通道的光会有串扰，导致该通道的测试插损与实际插损值有偏差（CWDM 光串扰0.2dB左右，因此该方案测试误差会比较小；但LAN-WDM的光串扰1dB以上，测试误差比较大，不适用该方案；DWDM类型产品该方案完全不适用）。

举例说明：以四通道MUX产品为例——以本通道插损-4dB，相邻通道插损-12dB计算，那么使用波分复用器测试出来的值为IL=10*LOG(10^(-4/10)+10^(-12/10))=-3.36dB，与实际值相差0.64dB (测试误差较大)。

实用新型内容

为了解决上述背景技术中现有测试技术采用外接光纤对接产品，会对产品进行损伤，采用光波分复用器会有不同通道的光串扰，导致测试误差较大的问题，本实用新型提供了一种测试效率高、测试良率高、测试精度高的光合光器的测试架构。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种光合光器的测试架构，其特征在于：包括多波长光源、程控式光开关、专用测试治具、PD光探头、光探测器外延光功率计和测试电脑；

所述专用测试治具包括底板、产品固定座和PD固定座，所述产品固定座和PD固定座均设于底板上平面上，所述产品固定座上设有N个用于测试产品的插芯插拔定位的定位孔，所述N为大于1的自然数，所述PD固定座上设有N个探头固定孔，N个定位孔与N个探头固定孔一一对应设置，所述N个探头固定孔内均通过胶粘固定连接有PD光探头，N个PD光探头分别电性连接N个光探测器外延光功率计；

所述多波长光源可以发出多个波长的光源，所述程控式光开关上设有多个光源通道开关和一个输出通道，所述多波长光源通过若干根光纤与多个光源通道开关一一对应连接，所述程控式光开关可以控制单个光源通道开关的开断，所述输出通道通过光纤跳线与测试产品对接，所述测试产品的插芯插设于一个定位孔中，与该定位孔对应的PD光探头可以直接读取测试产品插损，所述程控式光开关、光探测器外延光功率计均与测试电脑连接，PD光探头读取的测试产品插损数据通过光探测器外延光功率计传输给测试电脑。

优选的，所述定位孔内镶有产品插芯限位套管，使测试产品的插芯可以快速插拔。

优选的，所述产品固定座设有多个，多个产品固定座上内镶的产品插芯限位套管内径分别与不同的测试产品插芯外径相对应。

优选的，所述PD固定座设为L形，该L形的横板上设有两腰形孔，所述底板上与两腰形孔对应位置设有内螺纹孔，所述PD固定座通过锁紧螺栓穿过腰形孔与底板上的内螺纹孔固定连接，所述PD固定座可沿腰形孔调节与产品固定座之间的距离。