[实用新型]一种手动式集成电路测试装置有效
| 申请号: | 202122945007.9 | 申请日: | 2021-11-29 |
| 公开(公告)号: | CN217360163U | 公开(公告)日: | 2022-09-02 |
| 发明(设计)人: | 金英杰 | 申请(专利权)人: | 广东世坤智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人: | 孔令环 |
| 地址: | 511500 广东省清远市高新区科技*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种手动式集成电路测试装置,包括测试电路板,所述测试电路板上设有插座基座,插座基座内设有测试针模,测试针模内设有贯穿测试针模的测试探针,插座基座的一侧设有铰链座,铰链座上设有铰链头,铰链座与铰链头之间设有升降滑动机构,铰链头铰接有可盖合插座基座的插座压盖,铰接座上设有止旋法兰,插座压盖上设有可卡入止旋法兰的止旋卡槽,插座压盖与测试探针之间形成用于放置集成电路的测试腔,插座基座上设有与测试腔导通的真空抽气口。本实用新型通过旋转开关插座压盖,操作方便,可大大提升测试效率,而采用的真空负压方式吸附集成电路,可减少测试探针弹力带来的剪切应力,可有效避免被测集成电路受到损伤。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 手动式 集成电路 测试 装置 | ||
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