[实用新型]一种手动式集成电路测试装置

说明书

本实用新型公开了一种手动式集成电路测试装置，包括测试电路板，所述测试电路板上设有插座基座，插座基座内设有测试针模，测试针模内设有贯穿测试针模的测试探针，插座基座的一侧设有铰链座，铰链座上设有铰链头，铰链座与铰链头之间设有升降滑动机构，铰链头铰接有可盖合插座基座的插座压盖，铰接座上设有止旋法兰，插座压盖上设有可卡入止旋法兰的止旋卡槽，插座压盖与测试探针之间形成用于放置集成电路的测试腔，插座基座上设有与测试腔导通的真空抽气口。本实用新型通过旋转开关插座压盖，操作方便，可大大提升测试效率，而采用的真空负压方式吸附集成电路，可减少测试探针弹力带来的剪切应力，可有效避免被测集成电路受到损伤。

技术领域

本实用新型属于集成电路检测设备领域，特别涉及一种手动式集成电路测试装置。

背景技术

集成电路目前广泛的叫法为“芯片”，是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体。

集成电路具有精密的电路结构，由于生产过程极为复杂，故成品需要经过测试才能进入使用。目前的测试装置主要分两种，一种为手动测试装置，一种为自动测试装置，测试装置的选择主要取决于测试条件和测试场景。目前，现有的手动测试装置均为正压式测试插座，依靠机械外力，顶压被测集成电路，使被测集成电路的管脚准确及稳定的压接在弹性的测试探针上，该种测试装置具有以下缺陷：当集成电路管脚数与密度增大时，测试探针数量密度也随之增大，这就导致集成电路载片平均受力的增大，集成电路载片收到的剪切力增大，这就使得集成电路受损风险增大。除此，还有就是目前手工测试装置的机构不便于工人的操作，插座压盖的开闭不便，降低了测试效率。

实用新型内容

为克服现有技术的不足及存在的问题，本实用新型提供一种手动式集成电路测试装置，测试过程不会对集成电路造成损伤，且操作方便，可提高测试效率。

本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种手动式集成电路测试装置，包括测试电路板，所述测试电路板上设有插座基座，插座基座内设有测试针模，测试针模内设有贯穿测试针模的测试探针，测试探针与测试电路板电连接，插座基座的一侧设有铰链座，铰链座上设有铰链头，铰链座与铰链头之间设有升降滑动机构，铰链头铰接有可盖合插座基座的插座压盖，铰接座上设有止旋法兰，插座压盖上设有可卡入止旋法兰的止旋卡槽，插座压盖与测试探针之间形成用于放置集成电路的测试腔，插座基座上设有与测试腔导通的真空抽气口。

所述铰链座上设有止旋弹簧，止旋弹簧顶压有止旋弹销，插座压盖上设有顶压于止旋弹销的顶压部。

所述升降滑动机构包括两个竖直滑柱，铰链座上设有与两竖直滑柱匹配的直线轴承，竖直滑柱位于直线轴承中，两竖直滑柱的顶端分别固定安装于铰链头的两侧。

所述插座压盖顶部设有人工操作把手。

所述测试针模上设有用于定位集成电路的定位框。

所述测试电路板上设有接电焊盘，测试探针的一端与接电焊盘接触形成电连接。

所述真空抽气口上设有抽气接头，抽气接头位于插座基座的侧面上。

所述测试电路板与插座基座之间设有第一密封圈。

所述插座压盖底面设有用于密封于被测试集成电路顶面四周的第二密封圈。

所述插座压盖的顶部四周设有凸沿部，凸沿部抵于插座基座的顶面，凸沿部与插座基座顶面之间设有第三密封圈。