[实用新型]一种碳化硅晶体平面打磨标记装置有效
| 申请号： | 202122906337.7 | 申请日： | 2021-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN216126940U | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 曹智;赵然;张敬辉;王锡铭;勾喜满;马天祥 | 申请（专利权）人： | 山东国宏中能科技发展有限公司 |
| 主分类号： | B24B7/22 | 分类号： | B24B7/22;B24B49/00 |
| 代理公司： | 东营双桥专利代理有限责任公司 37107 | 代理人： | 宋风娥 |
| 地址： | 257200 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及碳化硅晶片测量装置领域，具体涉及一种碳化硅晶体平面打磨标记装置，包括支撑架和定位测量尺，碳化硅晶片固定于所述支撑架上，所述定位测量尺与所述支撑架的上部连接，所述定位测量尺包括升降杆、升降座、测量尺管和测量指示部，所述升降杆与所述支撑架限位垂直滑动连接且下部与所述升降座固定连接，所述升降座的底部设置有多个成圆周排列的所述测量尺管，每个所述测量尺管的中轴均与所述升降杆的中轴形成一定的角度，每个所述测量尺管沿轴线方向均设置有垂直向下的限位滑槽，所述测量指示部的上部限位滑动于所述限位滑槽内且底部与碳化硅晶片限位接触连接，本装置可在不取晶体的情况下对外圆和高度尺寸进行测量，提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碳化硅 晶体 平面 打磨 标记 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东国宏中能科技发展有限公司，未经山东国宏中能科技发展有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202122906337.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种不锈钢管件的高压成型装置
- 下一篇：一种异型物品抓取用新型柔性机械爪
