[实用新型]一种新型光学测厚设备有效
| 申请号： | 202122317440.8 | 申请日： | 2021-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN215952481U | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 李有田;高莹 | 申请（专利权）人： | 天高智控（天津）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 | 代理人： | 王海文 |
| 地址： | 300000 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种新型光学测厚设备，涉及检测设备技术领域，包括安装体，安装体内部设置有处理模组，安装体右侧形成有检测凹口，检测凹口顶部设置有上部检测组件，检测凹口底部设置有下部检测组件，上部检测组件和下部检测组件之间形成有检测通道，上部检测组件包括第一光学检测结构，第一光学检测结构四周围设有第一遮挡结构，第一遮挡结构内部围设形成有上部检测空间，下部检测组件包括第二光学检测结构，第二光学检测结构四周围设有第二遮挡结构，第二遮挡结构内部围设形成有下部检测空间。本实用新型具有检测效率高和检测结果可靠的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 光学 设备 | ||
【主权项】：
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