[实用新型]一种新型光学测厚设备

权利要求书

1.一种新型光学测厚设备，其特征在于，包括安装体，所述安装体内部设置有处理模组，所述安装体右侧中段内凹形成有检测凹口，所述检测凹口顶部设置有上部检测组件，所述检测凹口底部设置有正对上部检测组件的下部检测组件，所述上部检测组件和所述下部检测组件之间形成有检测通道，所述检测通道用于在其内部设置待检测产品；其中，

所述上部检测组件包括正对检测通道的第一光学检测结构，所述第一光学检测结构四周围设有第一遮挡结构，所述第一遮挡结构内部围设形成有上部检测空间，所述第一光学检测结构设置在上部检测空间内；

所述下部检测组件包括正对检测通道的第二光学检测结构，所述第二光学检测结构四周围设有第二遮挡结构，所述第二遮挡结构内部围设形成有下部检测空间，所述第二光学检测结构设置在下部检测空间内；

所述第一光学检测结构用于获取待检测产品的顶面位置信息，所述第二光学检测结构用于获取待检测产品的底面位置信息，所述处理模组用于根据顶面位置信息和底面位置信息生成第一产品厚度信息。

2.根据权利要求1所述的新型光学测厚设备，其特征在于，所述第一遮挡结构穿入所述安装体顶部并且连接有第一位置检测结构和第一弹性结构，所述第一弹性结构用于施加给第一遮挡结构向下的推力，所述第一位置检测结构用于获取第一遮挡结构的底面高度；

所述第二遮挡结构穿入所述安装体顶部并且连接有第二位置检测结构和第二弹性结构，所述第二弹性结构用于施加给第二遮挡结构向下的推力，所述第二位置检测结构用于获取第二遮挡结构的顶面高度；

所述处理模组还用于根据底面高度和顶面高度生成第二产品厚度信息。

3.根据权利要求2所述的新型光学测厚设备，其特征在于，所述第一遮挡结构包括：

开设在检测凹口顶面的第一滑动通道；

设置在第一滑动通道内并且能够上下滑动的第一遮挡部；

设置在第一遮挡部顶部的第一卡位部；其中，

所述第一遮挡部顶部接触所述第一弹性结构，所述第一卡位部连接所述第一位置检测结构，所述第一遮挡部内部形成所述上部检测空间。

4.根据权利要求3所述的新型光学测厚设备，其特征在于，所述第二遮挡结构包括：

开设在检测凹口底面的第二滑动通道；

设置在第二滑动通道内并且能够上下滑动的第二遮挡部；

设置在第二遮挡部底部的第二卡位部；其中，

所述第二遮挡部底部接触所述第二弹性结构，所述第二卡位部连接所述第二位置检测结构，所述第二遮挡部内部形成所述下部检测空间。

5.根据权利要求4所述的新型光学测厚设备，其特征在于，所述第一光学检测结构和第二光学检测结构对称设置，均包括激光发射单元、光电位敏接收器和信号传输单元；其中，

所述激光发射单元用于朝所述检测通道发射激光并在待检测产品表面形成光点；

所述光电位敏接收器用于将光点成像到光敏元件上并生成光点位置电信号；

所述信号传输单元用于根据光点位置电信号生成顶面位置信息或底面位置信息并将其传输给处理模组。

6.根据权利要求4所述的新型光学测厚设备，其特征在于，所述第一位置检测结构包括相互电性连接的第一位移检测模块和第一计算模块，所述第一位移检测模块贴合所述第一卡位部，所述第一位移检测模块用于获取第一卡位部高度信息，所述第一计算模块用于根据第一卡位部高度信息和第一遮挡部高度获取第一遮挡结构的底面高度。

7.根据权利要求6所述的新型光学测厚设备，其特征在于，所述第二位置检测结构包括相互电性连接的第二位移检测模块和第二计算模块，所述第二位移检测模块贴合所述第二卡位部，所述第二位移检测模块用于获取第二卡位部高度信息，所述第二计算模块用于根据第二卡位部高度信息和第二遮挡部高度获取第二遮挡结构的底面高度。