[实用新型]一种高精度半导体测试机

摘要

本申请涉及一种高精度半导体测试机，其包括控制箱，控制箱的上表面设置有支撑板与两个支撑柱，支撑板与两个支撑柱的顶端设置有顶板，支撑板与一个支撑柱间设置有侧板，侧板内设置有温湿度检测机构，支撑板与另一个支撑柱的侧壁间设置有散热装置，支撑板的侧壁设置有高精度移动机构，高精度移动机构的底端设置有测试机构，控制箱的上表面对称设置有限位板与传输机构，两个限位板的顶端滑动设置有放置机构，放置机构的下表面设置有齿板，两个限位板的上表面设置有挡板，控制箱的上表面设置有移动电机，移动电机的输出端设置有齿轮，控制箱的下表面对称设置有多个移动轮，本申请具有提高半导体测试效率的效果。