[实用新型]一种高精度半导体测试机有效

专利信息
申请号: 202121853046.X 申请日: 2021-08-10
公开(公告)号: CN216051803U 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 陆鹏;王硕秋;卞杰锋 申请(专利权)人: 江苏威迈智能科技有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;H05K7/20;B65G47/82
代理公司: 苏州汇智联科知识产权代理有限公司 32535 代理人: 王美红
地址: 224000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 半导体 测试
【说明书】:

本申请涉及一种高精度半导体测试机,其包括控制箱,控制箱的上表面设置有支撑板与两个支撑柱,支撑板与两个支撑柱的顶端设置有顶板,支撑板与一个支撑柱间设置有侧板,侧板内设置有温湿度检测机构,支撑板与另一个支撑柱的侧壁间设置有散热装置,支撑板的侧壁设置有高精度移动机构,高精度移动机构的底端设置有测试机构,控制箱的上表面对称设置有限位板与传输机构,两个限位板的顶端滑动设置有放置机构,放置机构的下表面设置有齿板,两个限位板的上表面设置有挡板,控制箱的上表面设置有移动电机,移动电机的输出端设置有齿轮,控制箱的下表面对称设置有多个移动轮,本申请具有提高半导体测试效率的效果。

技术领域

本申请涉及半导体测试技术领域,尤其是涉及一种高精度半导体测试机。

背景技术

目前半导体元件的生产环节中,半导体元体测试是重要的环节,半导体元件根据测试的结果进行分类。根据半导体引脚的方向不同,目前半导体元件的测试有分为底部测试、顶部测试与夹侧测试。

现有半导体测试因为追求高精度和测试结果对环境要求较高,测试完成后不能快速将半导体传输出去,影响测试效率。

针对上述中的相关技术,发明人认为存在有测试效率低的缺陷。

实用新型内容

为了解决上述背景技术中提出的问题,本申请提供一种高精度半导体测试机。

本申请提供的一种高精度半导体测试机采用如下的技术方案:

一种高精度半导体测试机,包括控制箱,所述控制箱的侧壁设置有测试显示屏与多个控制按钮,所述控制箱的上表面设置有支撑板与两个支撑柱,所述支撑板与两个支撑柱的顶端设置有顶板,所述支撑板与一个支撑柱间设置有侧板,所述侧板内设置有温湿度检测机构,所述支撑板与另一个支撑柱的侧壁均设置有连接板,两个所述连接板间设置有散热装置,所述支撑板的侧壁设置有高精度移动机构,所述高精度移动机构的底端设置有测试机构,所述控制箱的上表面对称设置有限位板,所述控制箱在两个限位板间设置有传输机构,两个所述限位板的顶端滑动设置有放置机构,所述放置机构的下表面设置有齿板,两个所述限位板的上表面设置有挡板,所述控制箱的上表面设置有移动电机,所述移动电机的输出端设置有齿轮,所述齿板与齿轮啮合,所述控制箱的下表面对称设置有多个移动轮,所述控制箱的两端侧壁对称设置有固定板,两个所述固定板的下表面均设置有升降装置,两个所述升降装置的底端设置有稳定板。

通过采用上述技术方案,高精度移动机构高精度的移动测试机构对半导体元件进行测试,移动电机控制放置机构移动,将半导体元件通过挡板推入传输机构,传输机构将测试完的半导体元件传输出去方便下一个半导体的测试,提高测试效率,移动轮用来移动测试机,升降装置下降带动稳定板下降来稳定测试机位置,温湿度检测机构来检测半导体测试的环境。

优选的,所述控制箱的侧壁设置有检修门。

通过采用上述技术方案,检修门方便对控制箱进行检修。

优选的,所述温湿度检测机构的侧壁设置有警报器与温湿度显示屏。

通过采用上述技术方案,温湿度显示屏显示环境数据,警报器在环境不正常时进行警报。

优选的,所述高精度移动机构与顶板间设置有加固杆。

通过采用上述技术方案,加固杆加固高精度移动机构。

优选的,所述散热装置包括散热壳体,所述散热壳体内设置有散热风扇,所述散热壳体的两端均设置有防尘安全网。

通过采用上述技术方案,散热风扇在环境不适合检测使进行散热除湿。

优选的,两个所述限位板的内壁均开设有滑槽,所述放置机构的两端滑动设置于两个滑槽内。

通过采用上述技术方案,滑槽限制了放置机构的滑动轨迹。

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