[实用新型]芯片测试机和芯片测试装置有效
| 申请号： | 202121824083.8 | 申请日： | 2021-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN216133165U | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 陈群;彭报 | 申请（专利权）人： | 嘉盛半导体（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 蒋姗 |
| 地址： | 215027 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试机和芯片测试装置，涉及半导体技术领域。测试机包括：测试机主体、开关组件、切换组件和测试电路板；开关组件和切换组件设置在测试机主体上；测试电路板设置在测试机主体内部；切换组件与开关组件连接，测试电路板通过切换组件与开关组件连接。测试装置包括：测试机、第一分选机和第二分选机；第一分选机与测试机的开关组件连接，测试机用于在第二分选机对第二分选机中的第一芯片进行移动时，对第一分选机中的第二芯片进行测试；第二分选机与测试机的开关组件连接，测试机用于在第一分选机对第二芯片进行移动时，对第一芯片进行测试。本申请设置两个分选机，能够利用芯片的移动时间，有效地提高了芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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