[实用新型]芯片测试机和芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试机，其特征在于，所述测试机包括：测试机主体、开关组件、切换组件和测试电路板；

所述开关组件和所述切换组件设置在所述测试机主体上；

所述测试电路板设置在所述测试机主体内部；

所述切换组件与所述开关组件连接，所述切换组件，用于对所述开关组件进行切换；

所述测试电路板通过所述切换组件与所述开关组件连接，所述测试电路板，用于对所述切换组件进行控制；

所述开关组件，用于连接外部的至少两个分选机。

2.根据权利要求1所述的测试机，其特征在于，所述开关组件包括第一开关和第二开关；

所述测试电路板通过所述第一开关与外部的第一分选机连接；

所述测试电路板通过所述第二开关与外部的第二分选机连接。

3.一种芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：如权利要求1-2中任意一项所述的测试机、第一分选机和第二分选机；

所述第一分选与所述测试机的所述开关组件连接，所述测试机用于在所述第二分选机对所述第二分选机中的第一芯片进行移动时，对所述第一分选机中的第二芯片进行测试；

所述第二分选机与所述测试机的所述开关组件连接，所述测试机用于在所述第一分选机对所述第二芯片进行移动时，对所述第一芯片进行测试。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第一分选机设置有多个第一检测工位，多个所述第一检测工位用于对应放置所述第二芯片中的多个芯片。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第二分选机设置有多个第二检测工位，多个所述第二检测工位用于对应放置所述第一芯片中的多个芯片。

6.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第一控制线和第二控制线；

所述第一分选机通过所述第一控制线与所述开关组件连接；

所述第二分选机通过所述第二控制线与所述开关组件连接。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述开关组件包括第一开关和第二开关；

所述第一开关与所述第一控制线连接；

所述第二开关与所述第二控制线连接。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述切换组件在所述第二分选机对所述第一芯片进行移动时，与所述第一开关连接，以开启所述第一开关；

所述切换组件在所述第一分选机对所述第二芯片进行移动时，与所述第二开关连接，以开启所述第二开关。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述测试电路板在所述第二分选机对所述第一芯片进行移动时，通过所述切换组件、所述第一开关和所述第一控制线与所述第一分选机连接；

所述测试电路板在所述第一分选机对所述第二芯片进行移动时，通过所述切换组件、所述第二开关和所述第二控制线与所述第二分选机连接。