[实用新型]晶圆制样装置有效
申请号: | 202121153051.X | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN213632901U | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 蒲以松;惠聪 | 申请(专利权)人: | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N21/49;H01L21/67;H01L21/66 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;张博 |
地址: | 710065 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本实施例涉及一种晶圆制样装置,包括:底座;定位轴,设置于底座上;承载结构,包括一穿设于定位轴内的转轴,以及设置于转轴上的载台;圆心定位结构,包括均匀的围设于定位轴的外围的多个伸缩抓手,用于控制多个伸缩抓手同步进行伸缩运动的第一控制单元,以及用于感应多个伸缩抓手是否与晶圆接触的传感器;待切割位置确定结构,包括用于控制载台转动的第二控制单元,以及位于载台的一侧的寻边器,寻边器用于在载台带动其上的晶圆转动的过程中,确定晶圆上的缺口的位置,第二控制单元还用于根据缺口的位置控制载台转动,以使得待切割位置位于预设位置;切割裂片结构,用于对晶圆的待切割位置进行切割裂片。 | ||
搜索关键词: | 晶圆制样 装置 | ||
【主权项】:
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