[实用新型]一种选择性检测分子的硅基反射干涉传感器有效
申请号: | 202120951134.7 | 申请日: | 2021-05-06 |
公开(公告)号: | CN215448982U | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 吴绍龙;王杰;李刘晶;秦琳玲;张程;李孝峰 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45 |
代理公司: | 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345 | 代理人: | 王利斌 |
地址: | 215137 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型属光学传感技术领域,提出一种选择性检测分子的硅基反射干涉传感器,沿着复合光入射方向依次包括有序硅纳米线阵列层、无序多孔硅层、平面硅基底;每根纳米线内部设置有随机分布的纳米孔;无序多孔硅层处于有序硅纳米线阵列层下方,该层设有呈树枝状随机分布的纳米孔。用于反射干涉传感测试时,小分子可以渗透到无序多孔硅层,而目标小分子和干扰大分子可同时渗入有序硅纳米线阵列层;与双层无序多孔硅结构相比,本方案不仅明显增强了待测液的流通性和传感器灵敏度,还降低了响应时间;与单层有序硅纳米线阵列结构或单层无序多孔硅结构相比,具有同时检测目标小分子和干扰大分子的优势。 | ||
搜索关键词: | 一种 选择性 检测 分子 反射 干涉 传感器 | ||
【主权项】:
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