[实用新型]一种选择性检测分子的硅基反射干涉传感器有效

专利信息
申请号: 202120951134.7 申请日: 2021-05-06
公开(公告)号: CN215448982U 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 吴绍龙;王杰;李刘晶;秦琳玲;张程;李孝峰 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 苏州智品专利代理事务所(普通合伙) 32345 代理人: 王利斌
地址: 215137 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型属光学传感技术领域,提出一种选择性检测分子的硅基反射干涉传感器,沿着复合光入射方向依次包括有序硅纳米线阵列层、无序多孔硅层、平面硅基底;每根纳米线内部设置有随机分布的纳米孔;无序多孔硅层处于有序硅纳米线阵列层下方,该层设有呈树枝状随机分布的纳米孔。用于反射干涉传感测试时,小分子可以渗透到无序多孔硅层,而目标小分子和干扰大分子可同时渗入有序硅纳米线阵列层;与双层无序多孔硅结构相比,本方案不仅明显增强了待测液的流通性和传感器灵敏度,还降低了响应时间;与单层有序硅纳米线阵列结构或单层无序多孔硅结构相比,具有同时检测目标小分子和干扰大分子的优势。
搜索关键词: 一种 选择性 检测 分子 反射 干涉 传感器
【主权项】:
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