[实用新型]用于测试芯片触点的金手指组件

摘要

本实用新型公开了一种用于测试芯片触点的金手指组件，涉及芯片测试设备配件技术领域，它包括相对设置且彼此绝缘的第一金手指和第二金手指；第一金手指的底部右侧向下延伸有第一长引脚，第二金手指的底部左侧向下延伸有第二长引脚，第一长引脚与第二长引脚的长度相同。两个金手指上分别仅有一个用于接触测试电路板的引脚，这使得两个金手指分别与测试电路板形成一个接触点，不需要另外对任何金手指的引脚进行绝缘，第一金手指与第二金手指之间又是彼此绝缘的，不存在因为第一长引脚和第二长引脚导通造成短路的情况，进而也不会发生因此影响测试、损坏待测芯片和待测电路板的情况。