[实用新型]一种芯片烧录测试设备有效

专利信息
申请号: 202120909348.8 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN214795104U 公开(公告)日: 2021-11-19
发明(设计)人: 岑思华 申请(专利权)人: 岑思华
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广东捷成专利商标代理事务所(普通合伙) 44770 代理人: 宋安东
地址: 510000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种芯片烧录测试设备,用于同时烧录或测试多个芯片,包括,探针板,其上设有多个探针;芯片板,用于设于所述探针板上方,所述芯片板正对所述探针板的一侧设有多个用于放置芯片的安装位,且多个所述安装位对应于多个所述探针;压力驱动机构,其设于所述芯片板上方,并推动所述芯片板朝靠近所述探针板方向移动,以使探针板上的多个探针对应与芯片板上的多个芯片电性连接;控制装置,与所述探针板电性连接,所述控制装置用于在探针与芯片电性连接时,对多个芯片进行烧录或测试。在本实用新型中,探针板上设有多个探针,所述芯片板上可容纳多个芯片,以同时对多个芯片进行烧录或测试,以提高所述芯片生产的效率。
搜索关键词: 一种 芯片 测试 设备
【主权项】:
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