[实用新型]一种芯片烧录测试设备

说明书

本实用新型公开了一种芯片烧录测试设备，用于同时烧录或测试多个芯片，包括，探针板，其上设有多个探针；芯片板，用于设于所述探针板上方，所述芯片板正对所述探针板的一侧设有多个用于放置芯片的安装位，且多个所述安装位对应于多个所述探针；压力驱动机构，其设于所述芯片板上方，并推动所述芯片板朝靠近所述探针板方向移动，以使探针板上的多个探针对应与芯片板上的多个芯片电性连接；控制装置，与所述探针板电性连接，所述控制装置用于在探针与芯片电性连接时，对多个芯片进行烧录或测试。在本实用新型中，探针板上设有多个探针，所述芯片板上可容纳多个芯片，以同时对多个芯片进行烧录或测试，以提高所述芯片生产的效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片烧录技术领域，特别是涉及一种芯片烧录测试设备。

背景技术

随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能。

在目前现有技术中，芯片烧录或是测试时，一般都是单个芯片进行，效率较低，难以满足市场需求。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的在于，提供一种生产效率高的芯片烧录测试设备。

一种芯片烧录测试设备，用于同时烧录或测试多个芯片，包括：

探针板，其上设有多个探针；

芯片板，用于设于所述探针板上方，所述芯片板正对所述探针板的一侧设有多个用于放置芯片的安装位，且多个所述安装位对应于多个所述探针；

压力驱动机构，其设于所述芯片板上方，并推动所述芯片板朝靠近所述探针板方向移动，以使探针板上的多个探针对应与芯片板上的多个芯片电性连接；

控制装置，与所述探针板电性连接，所述控制装置用于在探针与芯片电性连接时，对多个芯片进行烧录或测试。

在本实用新型中，通过在所述探针板上设置多个探针，以在所述压力驱动机构推动所述芯片板朝向所述探针板移动至特定位置后，所述探针板上的多个探针对应与所述芯片板上的多个芯片的接脚接触并电性连接，最后可通过所述控制装置对芯片进行烧录或测试，以提高所述芯片生产的效率。

优选地，所述探针板上部设有至少两个定位柱，所述芯片板上开设有至少两个定位孔，所述探针板上的定位柱一一对应插设于所述芯片板上的定位孔内。

优选地，所述探针板呈矩形状，所述探针板的四个拐角处均设有所述定位柱，所述芯片板对应四个所述定位柱的位置设有四个所述定位孔。

优选地，所述定位柱的下部设有限位台阶，以用于在所述芯片板下降至一定高度时，抵接于所述芯片板下部。

优选地，所述芯片烧录测试设备还包括透明压板，所述透明压板压设于所述芯片板上部。

优选地，所述透明压板由PVC材料制成。

优选地，所述探针包括伸缩针、套管以及弹性件，所述套管连接于所述探针板上，所述伸缩针竖直穿设于所述套管内，并可相对于所述套管伸缩，所述弹性件设于所述伸缩针和所述套管之间，以使所述伸缩针部分伸出所述套管外。

优选地，所述弹性件为压缩弹簧，所述压缩弹簧设于所述套管内，且所述压缩弹簧一端连接于所述套管底部，其另一端抵接于所述伸缩针伸入所述套管内的端部。

相对于现有技术来说，本实用新型的所述芯片烧录测试设备中，可以同时对多个芯片进行烧录或测试，并且所述芯片板的芯片接脚与探针的连接更加稳定，保证对芯片烧录或测试的工作顺利。

为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本实用新型。

附图说明