[实用新型]一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置有效
| 申请号： | 202120839624.8 | 申请日： | 2021-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN214953908U | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 赵晓美 | 申请（专利权）人： | 深圳市安润佳半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，包括主体，所述主体的内部焊接有固定盒，固定盒的底端内壁焊接有支撑弹簧，支撑弹簧的顶端焊接有安装板，所述固定盒的一侧设有电热丝和半导体冷凝片，所述固定盒的底端内壁设有电动机，电动机的输出轴一端焊接有凸轮，主体的一侧设有进气管，主体的一侧内壁设有风扇，固定盒的一侧开设有进风口，风扇处于进风口的一侧。本实用新型通过电热丝和半导体冷凝片可以分别测试VDMOS器件在高温和低温情况下工作情况，凸轮转动，会间歇撞击安装板的底部，从而对安装板上的VDMOS器件进行振动撞击检测，通过进气管可以向固定盒的内部通入检测气体，对VDMOS器件处于不同气体之中进行可靠性分析检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 vdmos 器件 可靠性 测试 试验装置 | ||
【主权项】：
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