[实用新型]一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置有效
| 申请号： | 202120839624.8 | 申请日： | 2021-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN214953908U | 公开（公告）日： | 2021-11-30 |
| 发明（设计）人： | 赵晓美 | 申请（专利权）人： | 深圳市安润佳半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 vdmos 器件 可靠性 测试 试验装置 | ||
1.一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，包括主体(1)，其特征在于，所述主体(1)的内部固定连接有固定盒(3)，固定盒(3)的底端内壁固定连接有支撑弹簧(15)，支撑弹簧(15)的顶端固定连接有安装板(14)，所述固定盒(3)的一侧设有电热丝(6)和半导体冷凝片(7)，所述固定盒(3)的底端内壁设有电动机(18)，电动机(18)的输出轴一端固定连接有凸轮(17)，所述主体(1)的一侧设有进气管(2)。
2.根据权利要求1所述的一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，其特征在于，所述主体(1)的一侧内壁设有风扇(4)，所述固定盒(3)的一侧开设有进风口(5)，所述风扇(4)处于进风口(5)的一侧，所述固定盒(3)的一侧内壁固定连接有两个固定板(8)，电热丝(6)和半导体冷凝片(7)处于两个固定板(8)之间。
3.根据权利要求1所述的一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，其特征在于，所述固定盒(3)的顶部设有顶盖(9)。
4.根据权利要求1所述的一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，其特征在于，所述固定盒(3)的一侧开设有穿线孔(10)。
5.根据权利要求1所述的一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，其特征在于，所述固定盒(3)的一侧开设有出风口(11)，所述主体(1)的一侧设有收集管(12)，收集管(12)的一端设有阀门(13)。
6.根据权利要求1所述的一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，其特征在于，所述固定盒(3)的底端内壁固定连接有底座(16)，所述电动机(18)处于底座(16)的顶端，所述安装板(14)的底端粘接有橡胶板(19)。
7.根据权利要求1所述的一种用于VDMOS器件可靠性测试的试验装置，其特征在于，所述安装板(14)的外部固定连接有支撑板(20)，支撑板(20)与所述固定盒(3)之间固定连接有保护弹簧(21)。
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