[实用新型]一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置有效

专利信息
申请号: 202120800447.2 申请日: 2021-04-19
公开(公告)号: CN214582945U 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 崔丁方;廖吉伟;彭明清;陈琳;杨康;李俊仪;崔海燕;子光平;缪彦美;袁外琼;黄秀英;陈芮 申请(专利权)人: 云南驰宏国际锗业有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 655099 云南省曲靖市翠峰西路*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 实用新型公开了一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置,涉及锗加工用结构技术领域。本实用新型包括测量台、支撑组件和调节组件,支撑组件包括支撑立柱和边缘立柱,且支撑立柱滑动连接于测量台上表面呈三角状设置的导轨内中部,并在其内部外端连接有边缘立柱,调节组件包括底座、调节立柱和调节横杆,且测量台一侧中部底座的上中部连接有调节立柱,且调节立柱一侧上部调节横杆的前端连接有夹座,调节横杆端部上下部的调节板一侧中部贯穿螺纹连接有螺杆。本实用新型通过设置支撑组件和调节组件,具有满足使用需求,便于使用的优点。
搜索关键词: 一种 用于 毛坯 凸面 基准 凸凹 测量 装置
【主权项】:
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