[实用新型]一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置

说明书

本实用新型公开了一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置，涉及锗加工用结构技术领域。本实用新型包括测量台、支撑组件和调节组件，支撑组件包括支撑立柱和边缘立柱，且支撑立柱滑动连接于测量台上表面呈三角状设置的导轨内中部，并在其内部外端连接有边缘立柱，调节组件包括底座、调节立柱和调节横杆，且测量台一侧中部底座的上中部连接有调节立柱，且调节立柱一侧上部调节横杆的前端连接有夹座，调节横杆端部上下部的调节板一侧中部贯穿螺纹连接有螺杆。本实用新型通过设置支撑组件和调节组件，具有满足使用需求，便于使用的优点。

技术领域

本实用新型属于锗加工用结构技术领域，特别是涉及一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置。

背景技术

锗是一种化学元素，锗单质是一种灰白色准金属，有光泽，质硬，属于碳族，化学性质与同族的锡与硅相近，不溶于水、盐酸、稀苛性碱溶液，溶于王水、浓硝酸或硫酸，具有两性，故溶于熔融的碱、过氧化碱、碱金属硝酸盐或碳酸盐，在空气中较稳定，而锗在加工过程中，需对其进行厚差测量，但它在实际使用中仍存在以下弊端。

现有的测量装置，一般通过单一尺寸进行锗毛胚的定位处理，而满足不了不同尺寸锗厚差测量时的定位需求。

现有的测量装置，一般通过手持测量表进行锗的厚差测量，测量精度不稳，且使用不便。

因此，现有的用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置，无法满足实际使用中的需求，所以市面上迫切需要能改进的技术，以解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置，通过设置支撑组件和调节组件，解决了现有测量装置，一般通过单一尺寸进行锗毛胚的定位处理，而满足不了不同尺寸锗厚差测量时的定位需求，同时，现有的测量装置，一般通过手持测量表进行锗的厚差测量，测量精度不稳，且使用不便的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

本实用新型为一种用于锗毛坯以凹凸面为基准凸凹面等厚差测量的装置，包括测量台、支撑组件和调节组件，所述支撑组件包括支撑立柱和边缘立柱，且支撑立柱滑动连接于测量台上表面呈三角状设置的导轨内中部，并在其内部外端连接有边缘立柱，所述调节组件包括底座、调节立柱和调节横杆，且测量台一侧中部底座的上中部连接有调节立柱，且调节立柱一侧上部调节横杆的前端连接有夹座，所述调节横杆端部上下部的调节板一侧中部贯穿螺纹连接有螺杆。

进一步地，所述测量台底中部通过紧固螺栓螺纹连接有支座，且支座底中部固定连接有防滑块，测量台上表面呈三角设置连接有刻度尺，由紧固螺栓进行支座的连接，用于对测量台进行结构支撑，而通过防滑块进行支座防滑处理，以及通过刻度尺进行边缘立柱、支撑立柱精准调节。

进一步地，所述导轨通过内部外端滑动的第一卡夹与边缘立柱底端阻尼连接，且导轨通过内中部滑动的第二卡夹与支撑立柱底端阻尼连接，所述支撑立柱直径小于边缘立柱直径设置，且支撑立柱上端设置有锗毛胚，由第一卡夹、第二卡夹进行支撑立柱、边缘立柱结构的卡接定位，而第一卡夹、第二卡夹可通过外螺栓进行与导轨间的连接，以及将支撑立柱直径小于边缘立柱直径设置，用于进行锗毛胚的定位。

进一步地，所述底座两侧内端中部焊接连接有限位块，且限位块通过正上下部中段的限位螺栓与测量台间连接，底座通过上中部的铰链与调节立柱底端活动连接，由限位螺栓贯穿限位块与测量台间的连接，进行底座的定位固定，而通过铰链进行底座与调节立柱间的活动连接，进行测量表的角度调节。

进一步地，所述调节立柱呈与调节横杆一端接触的L状设置，所述夹座上前端中部套接有测量表，且夹座上前端中部呈贯穿腔体设置，将调节立柱呈与调节横杆一端接触的L状设置，便于通过螺杆进行其结构的连接，而通过测量表用于对锗毛胚进行厚度测量，并将夹座上前端中部呈贯穿腔体设置，进行测量表的连接。